- ICH GCP
- Registro de ensayos clínicos de EE. UU.
- Ensayo clínico NCT00393666
¿Por qué los pacientes con crisis de ausencia están ausentes? Un estudio de imágenes cerebrales
Neuroimagen funcional en la epilepsia de ausencia infantil
Descripción general del estudio
Estado
Condiciones
Descripción detallada
Se desconocen los mecanismos fundamentales de la función cerebral alterada y el deterioro de la atención en la epilepsia de ausencia infantil (EAC). Las crisis de ausencia consisten en episodios breves de 5 a 10 segundos de falta de respuesta, asociados con una descarga de "onda de punta" de 3 a 4 Hz en el electroencefalograma (EEG). CAE afecta al 10-15% de los niños con epilepsia. Además del déficit durante las convulsiones, muchos niños también sufren de un deterioro de la atención más leve entre los episodios de ausencia, que puede no deberse por completo a los medicamentos. El deterioro de la atención durante y entre las crisis de ausencia tiene un gran impacto negativo en la calidad de vida del paciente debido a los déficits en el rendimiento escolar, la posibilidad de lesiones y el estigma social.
Estudios recientes sugieren que la cognición deteriorada en las llamadas crisis de ausencia "generalizadas" puede, de hecho, depender de la disfunción en redes cerebrales específicas. Nuestra hipótesis central es: la función anormal en las regiones focales del cerebro, como la corteza cingulada anterior/prefrontal medial y el tálamo medial, provoca una atención deficiente tanto durante como entre las convulsiones en CAE. Si se confirma, esto puede conducir a terapias regionales innovadoras dirigidas a mejorar la atención deteriorada en CAE. Específicamente, esperamos determinar qué redes corticales y subcorticales específicas están involucradas selectivamente cuando los pacientes muestran problemas de atención. Usando EEG simultáneo y resonancia magnética funcional (fMRI), determinaremos qué regiones del cerebro están involucradas en las crisis de ausencia mientras usamos una tarea de rendimiento continuo (CPT) para evaluar la vigilancia de la atención en los mismos pacientes. Luego seguirán algunas pruebas de neuropsicología. A los pacientes se les reembolsarán $100, así como todos los gastos de viaje y estacionamiento.
Para obtener más información, visite www.yalecae.com
Tipo de estudio
Inscripción (Actual)
Contactos y Ubicaciones
Ubicaciones de estudio
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Connecticut
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New Haven, Connecticut, Estados Unidos, 06510
- Yale University School of Medicine, Neurology Department
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Criterios de participación
Criterio de elegibilidad
Edades elegibles para estudiar
Acepta Voluntarios Saludables
Géneros elegibles para el estudio
Método de muestreo
Población de estudio
Descripción
Criterios de inclusión:
- Diagnóstico confirmado de epilepsia de ausencia infantil o epilepsia de ausencia juvenil
- Ningún otro problema de salud grave o problemas neurológicos.
- 6 años o más
Criterio de exclusión:
- Sin antecedentes de convulsiones mioclónicas o tónico-clónicas
Plan de estudios
¿Cómo está diseñado el estudio?
Detalles de diseño
- Modelos observacionales: Control de caso
- Perspectivas temporales: Futuro
Colaboradores e Investigadores
Patrocinador
Colaboradores
Investigadores
- Investigador principal: Hal Blumenfeld, MD, PhD, Yale University
- Director de estudio: Michiro Negishi, PhD, Diagnostic Radiology
- Director de estudio: R. Todd Constable, PhD, Yale University
- Director de estudio: Jennifer Guo, MS, Yale University
Fechas de registro del estudio
Fechas importantes del estudio
Inicio del estudio
Finalización primaria (Actual)
Finalización del estudio (Actual)
Fechas de registro del estudio
Enviado por primera vez
Primero enviado que cumplió con los criterios de control de calidad
Publicado por primera vez (Estimar)
Actualizaciones de registros de estudio
Última actualización publicada (Estimar)
Última actualización enviada que cumplió con los criterios de control de calidad
Última verificación
Más información
Términos relacionados con este estudio
Términos MeSH relevantes adicionales
Otros números de identificación del estudio
- NIH R01 NS055829
- HIC # 18514
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