冠状动脉切除术与智齿切除术的安全性 (coronrct)

阻生智齿的并发症，如冠周炎、龋齿和牙周病很常见，这些都表明第三磨牙手术仍然是最常见的口腔外科手术。 众所周知，在拔除埋伏较深的智齿过程中，下牙槽神经 (IAN) 受损是一种众所周知的并发症。 多年来，智齿手术后 IAN 缺陷的报告记录在 0.4% 至 8.4% 之间。 IAN 损伤可能是由于神经受压所致，无论是在抬高过程中由根部传递的间接力，还是直接由电梯传递的力。 神经也可能被旋转器械横断导致神经断裂，或者当牙齿被 IAN 开槽或穿孔时。 几项研究试图将影像学标记与 IAN 和智齿根的关系关联起来。 Howe 和 Poyton 确定了 3 个射线照相标志，表明智齿的根部可能被 IAN 2 开槽、缺口或穿孔。Rood 和 Shehab 在 1990 年建议改道、根部变黑和 IAN 白线中断与 IAN 损伤显着相关。 Sedaghatfar 等人。在 2005 年进行了一项回顾性队列研究并证实了这一点，并将根部变窄作为预测神经和根部接近程度的另一个重要标志。 这些射线照相迹象仅向外科医生和患者表明，拔除相应的智齿会增加神经损伤的风险，但如果拔除智齿，则不能预防这种情况。

冠状动脉切除术是一种旨在仅去除阻生下颌第三磨牙牙冠的手术，不影响根部，从而避免对 IAN 可能的直接或间接损伤。 这种技术首先由 Knutsson 等人描述。 1989 年对 33 名患者进行的回顾性研究。 迄今为止发表了 6 篇关于冠状切除术的论文，其中包括 3 篇病例报告和 2 篇回顾性研究，以及一项 Renton 等人的随机对照试验。在 2005 年。在最后一项研究中，128 名患者被随机分配接受智齿拔除或冠状切除术。 发现接受拔牙的组在术后 IAN 缺陷方面明显比冠状切除术组更常见，而在其他手术并发症方面没有显着差异。 其他研究也得出了类似的结论。 然而，一个常见的发现是在冠状切除术后智齿根表面缓慢移动。 有人建议只有在口内暴露时才能去除牙根，但由于牙根已从神经中移出，因此降低了第二次手术中 IAN 损伤的风险。