SPiT 周波数 I_インプラント周囲粘膜炎

スクリーニング訪問では、適格な被験者をスクリーニングし、研究基準を満たす患者にベースライン情報を提供するために、次の検査と検査が実行されます。

• 歯学部の定期電子歯科ジャーナルに記載されている既往歴情報を収集します
• 臨床登録の評価;化膿、歯垢、歯肉出血、PPD、出血指数スコアおよび角化粘膜の存在
• 対象者とインプラントが対象基準に従って適格であることを確認するための既存の X 線写真の評価
• 研究に関する情報は書面および口頭で提供されます
• オペレーターが適切と判断したツールを使用したプラークコントロールに関する徹底的な情報と指導
• 研究に関する情報は、インフォームドコンセントシートとともに口頭または書面で与えられます。

訪問 1 ベースライン 署名済みの同意が収集される

経験豊富で校正済み、学会認定の歯周病専門医 (「検査官」) が、付属のインプラントの 6 つの部位 (近心頬側、頬側、遠心頬側、近心舌側、舌側、遠心舌側) で次の臨床登録を行います。

プラーク：インプラントの辺縁表面全体にプローブを走らせることによって認識される存在または不在（Mombelli et al. 1987）。 含めるインプラントにプラークが存在する場合は、口腔衛生指導が繰り返され、ベースライン検査のスケジュールが変更されます。 PICF (インプラント周囲の鎖骨液): インプラント周囲の鎖骨液 (PICF) は、インプラントごとに 1 つの部位から採取されます。ベースラインでの最も重篤な病変 化膿：歯肉/粘膜に対する軽い圧力、またはインプラント周囲ポケットの穏やかな検査後の有無。

粘膜出血: 修正溝出血指数 (mBI) (Mombelli et al. 1987) に従って記録されます。

PPD：感圧プローブ（20 g）を使用して記録しました（ノースカロライナ大学プローブ、Aesculap、Braun、Tuttlingen、Germany）。

出血指数スコア: 6 つの部位でプローブした後、インプラントで測定され、等級付けされます (0 ～ 3)。

0 = 出血なし、

1. = 斑点状の出血、
2. = 線にじみ
3. = PPD 測定後 30 秒以内に大量の出血がある。 角質化した粘膜の存在: 頬中央部位で 2 mm 以上が「適切」、2 mm 未満が「不十分」として記録される (Moraschini et al. 2017)。

頬の後退;固定点 - 上部構造/アバットメント接続部から粘膜縁までの距離 (mm) 唾液サンプル。パラフィルムを咀嚼しながら、刺激された唾液を氷冷した滅菌チューブに5分間採取します。

採取直後に、採取した唾液の量を記録して唾液の流れを測定し、一方で pH は手持ちの pH 電極または pH ストリップを使用して測定します。 緩衝能は、採取した唾液のサンプルに 5 mM HCl を 3:1 の比率で加え、手持ちの pH 電極または pH ストリップで pH を測定することによって決定されます。 残りの唾液は、7500 × g、4℃で 10 分間遠心分離し、さらなる分析まで最大 2 か月間 -80℃ で保存します。 唾液中の総タンパク質含有量は Pierce BCA タンパク質アッセイを使用して測定され、カルシウム含有量は原子吸光分光法で測定されます。 唾液の抗酸化活性は、ABTS アッセイを使用して測定されます。 これらのアッセイでは、唾液サンプルは分析の直前に解凍され、すべてのサンプルはアッセイ完了後直ちに廃棄されます (21.08.23 編集) 以下の手順は「オペレータ」によって行われます。 近心面および遠心面におけるインプラントのネジ山が明確に投影されているインプラントの X 線写真は、標準の Eggens ホルダーを使用して撮影されます。

含まれるすべてのインプラントは次の処理を受けます。

必要に応じて口腔衛生指導を繰り返し行う PEEK チップを備えた超音波装置を使用した粘膜下器具の使用とその後の滅菌生理食塩水による大量の洗浄 研磨ペーストとラバーカップを使用した粘膜上の研磨 治療後、局所麻酔が適用されなかった場合、対象者は口腔衛生レベルを評価するよう求められます。 10cmのビジュアルアナログスケール（VAS）で感じられる痛み。

試験官は、オペレータが「テスト」または「コントロール」と記載された隠し封筒を開けてランダム化を実行する前に部屋を出ます。 各被験者には、研究に複数のインプラントが含まれる場合があります。 すべてのインプラントは同じ頻度の SPiT でスケジュールされます。

ベースラインから 3、6、9 週間後 高周波 SPiT インプラントのみの予約が予定されています。 これらの時点で、すべてのインプラントはオペレータによって評価され（非盲検検査）、前述の粘膜上研磨、粘膜下器具の使用およびOHI（必要に応じてVASスケール）が登録されます。

ベースラインから 12 週間（3 か月）後 この時点で、すべてのインプラントは盲検検査官によって臨床検査され、粘膜上研磨、粘膜下器具装着および上記の OHI を受けます。VAS スケールが登録されます。

ベースラインから 16 週間 (4 か月) 高周波 SPiT インプラントのみの予約が予定されています。 この時点で、すべてのインプラントはオペレーターによって評価され、粘膜上研磨、粘膜下器具の使用が上記のように行われ、OHI - 必要に応じて VAS スケールが登録されます。

ベースラインから 24 週間（6 か月）後 この時点で、すべてのインプラントは盲検検査官によって臨床検査され、粘膜上研磨、粘膜下器具の使用およびオペレーターによる OHI が行われます。VAS スケールが登録されます。

ベースラインから 36 週間（9 か月）後 この時点で、すべてのインプラントは盲検検査官によって臨床検査され、オペレータによる粘膜上研磨、粘膜下器具の使用および OHI が行われます。VAS スケールが登録されます。ベースラインに従って X 線写真が撮影されます。検査 紹介する歯科医/歯科衛生士（いる場合）には、実施された治療とその結果に関する書面による情報が与えられ、フォローアップのルーチンが提案されます。