単一後方インプラント支持修復物用のスキャンペグを備えたヒーリングアバットメントの臨床パフォーマンスと精度

実験的：スキャンペグ付きヒーリングアバットメント（Neossインプラントシステム、英国ハロゲート）

12 人の参加者は、完全ガイド付きインプラント プロトコルによって Neoss インプラントを受け、続いてスキャン ペグを使用してヒーリング アバットメントを装着します。

他の：スキャンペグ付きヒーリングアバットメント（Neossインプラントシステム、英国ハロゲート）

12 人の参加者は、完全ガイド付きインプラント プロトコルによって Neoss インプラントを受け、続いてスキャン ペグを使用してヒーリング アバットメントを装着します。

アクティブコンパレータ：カスタマイズされたヒーリングアバットメント

12 人の参加者は、完全ガイド付きインプラント プロトコルによって Neoss インプラントを受け、続いてカスタマイズされたヒーリング アバットメントを装着します。

他の：カスタマイズされたヒーリングアバットメント

12人の参加者は、完全ガイド付きインプラントプロトコルによってNeossインプラントを受け、続いてスキャンボディによる口腔内スキャンによって作製されたカスタマイズされたヒーリングアバットメントを装着します。

スキャン時間（治癒アバットメント - スキャンペグとスキャンボディ）

口腔内スキャナーによるスキャン時間は両方のグループで記録されます。

スキャンペグとスキャン本体の口腔内スキャンによって製造されたクラウンの近位コンタクトの品質

近位接触部はデンタルフロスを使用して評価されます

1. オープン: フロスに対する抵抗がない場合、オープン接点が報告されます。
2. 理想的:歯間フロスの挿入にある程度の抵抗がある場合、理想的な接触が報告されます。
3. 緊密: 近位接触点を通るフロスの通過を妨げる場合、緊密な接触が報告されます。

隣接接触の割合は、クラウン出産日、3 か月後、および 6 か月後に各グループについて計算されます。

スキャンペグとスキャンボディの口腔内スキャンによって製造されたクラウンの咬合接触の品質

オクルージョンの評価は、12μのシムストックを2層にして実行されます。

1. 調整なし: 患者が食いしばったときにシムストックが保持されており、調整が必要ない場合。
2. 軽度の調整: 単純に閉じた後にシムストックが保持されている場合、咬合接触は重いと報告され、チェアサイドでの軽度の調整が行われます。
3. 重大な調整: リューズが製造技術者に返却された場合、その調整は重大な調整とみなされます。
4. オクルージョン外: クレンチング後にシムストックが抵抗なく通過する場合、オープンコンタクトが報告されます。

咬合接触の割合は、クラウン出産日、3 か月後、6 か月後に各グループについて計算されます。

デジタル咬合解析装置による咬合評価

インプラント支持修復物の咬合力が測定されます

インプラント周囲のプロービング深さ (スキャンペグ vs カスタマイズされたヒーリングアバットメント)

インプラント周囲のプロービング深さとは、歯肉縁から抵抗が最小になる点までの距離を指します。 インプラント周囲のプロービング深さは、オートクレーブ可能な目盛り付きプラスチック歯周プローブを使用して測定されます。 プローブはインプラントの長軸と平行に保持され、軽い力でインプラント周囲溝に導入されます。

測定は各インプラントの周囲の 4 か所で行われます。近心頬側、遠心頬側、近心口蓋側、遠心口蓋側。 プローブ深さが 1 mm 以下の場合は 1 mm として記録され、1 mm を超え 2 mm 未満の場合は 2 mm として記録されます。 各インプラントの平均が計算されます。

臨床アタッチメントレベル (スキャンペグとカスタマイズされたヒーリングアバットメント)

これは、接合部インプラント/アバットメントから根尖方向に最も可能性の高い部分までの距離 (ミリメートル単位) です。 臨床的付着レベルの評価は、インプラント周囲のプロービング深さを測定すると同時に実行されます。

修正された歯肉インデックス (スキャンペグ vs カスタマイズされたヒーリングアバットメント)

インプラント周囲のインプラント周囲粘膜組織は、Lobene および Weatherford に従って評価されます。 カテゴリーの評価基準は以下の通りとなります。

０：炎症がなく、歯肉は正常である。

1. 軽度の炎症、わずかな色の変化、辺縁または乳頭歯肉単位（局所的）の一部（全体ではない）の質感の小さな変化。
2. 軽度の炎症、わずかな色の変化、歯肉全体または歯肉乳頭の質感のわずかな変化（全身性）。
3. 中程度の炎症、発赤、浮腫。
4. 重度の炎症、顕著な発赤、浮腫、潰瘍形成、自然出血 各インプラント周囲の 4 か所 (近心、遠位、唇側/頬側、舌側) で測定され、各インプラントの平均記録が計算されます。

辺縁骨損失（スキャンペグとカスタマイズされたヒーリングアバットメント）

根尖周囲デジタル X 線写真は、クラウン挿入時 (ベースライン) と最大 6 か月後に撮影されます。 辺縁骨レベルの変化は、標準化された X 線写真を使用して毎回評価されます。 インプラント上で同じ正半径方向の視点を実現するために、X 線フィルム位置決め装置が使用されます。 X 線写真のスクリーンショットをインポートした後、骨損失量が測定されます。