Studie zur Bewertung der Implantatüberlebensrate von Astra Tech Fixture ST im hinteren Oberkiefer mit einzeitiger Operation und früher Belastung
Eine offene prospektive Studie zur Bewertung der Überlebensrate und der marginalen Knochenreaktion von Astra Tech-Zahnimplantaten, Fixture ST, bei Patienten mit Zahnverlust im hinteren Oberkiefer.
Studienübersicht
Status
Status
Bedingungen
Bedingungen
Intervention / Behandlung
Intervention / Behandlung
Studientyp
Studientyp
Einschreibung (Tatsächlich)
Einschreibung
Phase
Phase
- Unzutreffend
Kontakte und Standorte
Studienorte
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New York
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New York, New York, Vereinigte Staaten, 10010
- Dept. of Periodontology, New York Dept of Veterans Affairs Medical Center
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New York, New York, Vereinigte Staaten, 10010
- Dept. of Prosthodontics, New York Dept of Veterans Affairs Medical Center
-
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Teilnahmekriterien
Zulassungskriterien
Zulassungskriterien
Studienberechtigtes Alter
Akzeptiert gesunde Freiwillige
Studienberechtigte Geschlechter
Beschreibung
Einschlusskriterien:
- Alter 18 - 75
- Ein- oder beidseitige Zahnlosigkeit im hinteren Oberkiefer, letzter Zahn sollte der Eckzahn oder der erste Prämolar sein
- Bereit zur Einwilligung nach Aufklärung
Ausschlusskriterien:
- Knochenhöhe < 5 mm, im geplanten Implantatbereich
- Knochenbreite < 5 mm, im geplanten Implantatbereich
- Vorhergehender Knochenaufbau im geplanten Implantatbereich
- Frühere Misserfolge enossaler Implantate
- Unbehandelte Karies und/oder Parodontitis des Restgebisses
- Anamnese oder Vorhandensein einer systemischen oder lokalen Erkrankung oder eines Zustands, der die postoperative Heilung und/oder Osseointegration beeinträchtigen würde
- Systemische Kortikosteroide oder andere Medikamente, die die postoperative Heilung und/oder Osseointegration beeinträchtigen würden
- Aktueller Alkohol- oder Drogenmissbrauch
- Drei Jahre lang nicht in der Lage oder nicht bereit, zu Nachuntersuchungen zurückzukehren
Studienplan
Wie ist die Studie aufgebaut?
Designdetails
- Hauptzweck: Behandlung
- Zuteilung: N / A
- Interventionsmodell: Einzelgruppenzuweisung
- Maskierung: Keine (Offenes Etikett)
Anzahl der Arme
Waffen und Interventionen
Teilnehmergruppe / ArmTeilnehmergruppe / Arm |
Intervention / BehandlungIntervention / Behandlung |
|---|---|
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Experimental: Astra Tech Fixture ST
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Astra Tech Fixture ST Ø 3,5 und 4,5 cm in den Längen 9, 11, 13, 15, 17 und 19 mm.
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Was misst die Studie?
Primäre Ergebnismessungen
Primäre Ergebnismessungen
Ergebnis Maßnahme |
Maßnahmenbeschreibung |
Zeitfenster |
|---|---|---|
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Implantatüberlebensrate
Zeitfenster: Bei der Nachuntersuchung: 6 Monate nach dem Einsetzen der Implantate
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Ein Implantat, das nicht osseointegriert ist, seine Osseointegration verloren hat oder gebrochen ist, gilt ab dem Datum der Entfernung als fehlerhaft.
Die Implantatüberlebensrate wird anhand der Kaplan-Meier-Methode basierend auf der Anzahl der eingesetzten Implantate berechnet.
Patienten, die die Studie nach dem letzten Implantatversagen abgebrochen haben, haben keinen Einfluss auf die kumulative Überlebensrate.
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Bei der Nachuntersuchung: 6 Monate nach dem Einsetzen der Implantate
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Implantatüberlebensrate
Zeitfenster: Bei der Nachuntersuchung: 1 Jahr nach dem Einsetzen der Implantate
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Ein Implantat, das nicht osseointegriert ist, seine Osseointegration verloren hat oder gebrochen ist, gilt ab dem Datum der Entfernung als fehlerhaft.
Die Implantatüberlebensrate wird anhand der Kaplan-Meyer-Methode basierend auf der Anzahl der eingesetzten Implantate berechnet.
Patienten, die die Studie nach dem letzten Implantatversagen abgebrochen haben, haben keinen Einfluss auf die kumulative Überlebensrate.
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Bei der Nachuntersuchung: 1 Jahr nach dem Einsetzen der Implantate
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Implantatüberlebensrate
Zeitfenster: Bei der Nachuntersuchung: 2 Jahre nach dem Einsetzen der Implantate
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Ein Implantat, das nicht osseointegriert ist, seine Osseointegration verloren hat oder gebrochen ist, gilt ab dem Datum der Entfernung als fehlerhaft.
Die Implantatüberlebensrate wird anhand der Kaplan-Meyer-Methode basierend auf der Anzahl der eingesetzten Implantate berechnet.
Patienten, die die Studie nach dem letzten Implantatversagen abgebrochen haben, haben keinen Einfluss auf die kumulative Überlebensrate.
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Bei der Nachuntersuchung: 2 Jahre nach dem Einsetzen der Implantate
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Implantatüberlebensrate
Zeitfenster: Bei der Nachuntersuchung: 3 Jahre nach dem Einsetzen der Implantate
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Ein Implantat, das nicht osseointegriert ist, seine Osseointegration verloren hat oder gebrochen ist, gilt ab dem Datum der Entfernung als fehlerhaft.
Die Implantatüberlebensrate wird anhand der Kaplan-Meyer-Methode basierend auf der Anzahl der eingesetzten Implantate berechnet.
Patienten, die die Studie nach dem letzten Implantatversagen abgebrochen haben, haben keinen Einfluss auf die kumulative Überlebensrate.
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Bei der Nachuntersuchung: 3 Jahre nach dem Einsetzen der Implantate
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Sekundäre Ergebnismessungen
Sekundäre Ergebnismessungen
Ergebnis Maßnahme |
Maßnahmenbeschreibung |
Zeitfenster |
|---|---|---|
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Implantatversagen
Zeitfenster: 3 Jahre nach Implantatinsertion
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Gesamtzahl der als fehlgeschlagen gemeldeten Implantate.
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3 Jahre nach Implantatinsertion
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Mitarbeiter und Ermittler
Sponsor
Sponsor
Ermittler
Ermittler
- Hauptermittler: Bruce G Valauri, D.D.S., New York Dept of Veterans Affairs Medical Center
- Hauptermittler: Michael Toffler, D.D.S., New York Dept of Veterans Affairs Medical Center
Studienaufzeichnungsdaten
Haupttermine studieren
Studienbeginn
Studienbeginn
Primärer Abschluss (Tatsächlich)
Primärer Abschluss
Studienanmeldedaten
Zuerst eingereicht
Zuerst eingereicht
Zuerst eingereicht, das die QC-Kriterien erfüllt hat
Zuerst eingereicht, das die QC-Kriterien erfüllt hat
Zuerst gepostet (Schätzen)
Zuerst gepostet
Studienaufzeichnungsaktualisierungen
Letztes Update gepostet (Schätzen)
Letztes Update gepostet
Letztes eingereichtes Update, das die QC-Kriterien erfüllt
Letztes eingereichtes Update, das die QC-Kriterien erfüllt
Zuletzt verifiziert
Zuletzt verifiziert
Mehr Informationen
Begriffe im Zusammenhang mit dieser Studie
Zusätzliche relevante MeSH-Bedingungen
Andere Studien-ID-Nummern
Andere Studien-ID-Nummern
- YA-MIC-0002
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