低レベルレーザーと発光ダイオードの組み合わせは、歯科インプラントの安定性を高めることができますか?

研究に含める資格のある被験者は、下顎の第一大臼歯に無歯顎があり、歯科インプラントが必要でした。 被験者は、骨に影響を与える疾患、喫煙、骨増強が必要な無歯顎部の骨不足、フォローアップのために戻ってこなかった、または研究登録を拒否した場合、研究登録から除外されました。

すべてのインプラントは、抜歯後少なくとも 3 か月後に埋入されました。 インプラントのサイズは 4.8X 10 mm (Zimmer、米国) でした。 被験者は、コンピュータの無作為化に基づいて 2 つのグループに分けられました。グループ 1 (介入) では、被験者はインプラントの配置後に LLL と LED を受け取り、グループ 2 (コントロール) では同じデバイスを受け取りました。デバイスがオフのときに使用されました。

810nm レーザーと 632nm LED の組み合わせによる介入群の照射には、ポータブル デバイスが適用されました。

グループ 1 の被験者は、LLL 15 mw/cm2 と LED 10 mw/cm2 を毎日 20 分間、10 日間受けました。

近遠心方向と頬舌方向を測定し、平均インプラント安定指数 (ISQ) を求めました。 RFA 測定は、挿入直後 (time0)、インプラント埋入後 10 日 (time1)、3 週間 (time2)、6 週間 (time3)、および 9 (time 4) で実施されました。