高リスク患者の皮膚がんを評価するためのナノサイトロジー検査

扁平上皮癌は、扁平上皮異形成および日光角化症と呼ばれる初期段階が先行する多段階発癌プロセスの集大成です。 「フィールド効果」としても知られる扁平上皮異形成（SD）は、乾皮症（乾燥したうろこ状の皮膚）、黒子、および不均一な色素沈着によって臨床的に特徴付けられます。 形態学的には皮膚生検および細胞診サンプルは最小限の変化しか示していませんが、分子レベルでは、SD は P53 遺伝子の変異を有する小さなクローンケラチノサイトによって特徴付けられることが知られています。 部分波分光法 (PWS) と呼ばれる光学技術は、数十から数百ナノメートルのオーダーのナノスケール構造を調べます。 PWS は、組織サンプルから反射された光を使用する光後方散乱技術です。 測定されたバイオマーカーは、細胞内の細胞質および核構造に敏感であり、従来の光学顕微鏡では認識できないナノスケールの障害を定量化します。 PWS は、結腸および肺の前癌状態の細胞サンプルのナノスケール レベルで、さまざまなグレードの構造障害を特定することを可能にしました。 PWS を使用して、SCC 発症のリスクが高い患者からの皮膚 SD のスペクトルを研究することを目指しています。 扁平上皮異形成は通常の組織学および細胞病理学では評価が困難であり、通常の組織学または細胞学による扁平上皮異形成の等級付けシステムは利用できないため、新しいより感度の高いイメージング技術として PWS の価値を評価することを提案します。 分子レベルでSDの程度を特定することにより、綿密な監視、早期治療、および化学予防戦略に介入して、皮膚がんの数を減らし、より小さくすることで罹患率を下げることができるかもしれません.