신생아 뇌 테스트(NBT) (NBT)

신생아 집중 치료실

모집 된 아기의 50%가 신생아 집중 치료실에서 나올 것입니다. 모든 신생아 ≥ 37 및 ≤ 45 주 임신 연령은 두피에 머리 외상이나 피부가 부러지지 않는 NBT 연구에 적합합니다.

장치: Cergenx Wave

뇌 손상을 평가하기 위해 클라우드 기반 알고리즘이있는 EEG 앰프를 사용한 짧은 EEG 기록.

출신 후 와드

모집 된 아기의 50%가 산후 병동에서 나올 것입니다. 모든 신생아 ≥ 37 및 ≤ 45 주 임신 연령은 두피에 머리 외상이나 피부가 부러지지 않는 NBT 연구에 적합합니다.

장치: Cergenx Wave

뇌 손상을 평가하기 위해 클라우드 기반 알고리즘이있는 EEG 앰프를 사용한 짧은 EEG 기록.

시도된 기록의 80%에 대해 첫 번째 시도에서 장치에 대해 허용 가능한 EEG 기록을 얻을 수 있는지 평가

첫 번째 시도에서 최소 80%의 유아에서 좋은 품질의 기록이 달성되면 장치의 타당성이 달성됩니다. 즉, 성공률이 80% 미만이면 장치가 타당하지 않습니다.

만족스러운 검토를 위해 기술적 품질 측면에서 허용되는 EEG:

• 녹음은 뇌 활동을 명확하게 기록해야 합니다. 전극이 제대로 부착되지 않거나 분리된 경우 EEG 채널은 허용되지 않는 지속적인 높은 진폭/혼돈 아티팩트를 표시할 가능성이 높습니다.
• 만삭아의 뇌 활동에는 25~150μV 범위의 진폭을 갖는 혼합 주파수 성분(델타, 세타, 알파 활동)의 지속적인 활동이 포함되어야 합니다.
• EEG는 높은 전극 임피던스로 인해 지속적인 50Hz로 인해 손상되어서는 안 되며, 이로 인해 기록을 읽을 수 없게 됩니다.

EEG의 '대부분'(50%+)은 인공물이 없고 읽을 수 있어야 합니다.

첫 번째 시도에서 유아에 대해 좋은 품질의 기록을 얻은 경우 평가를 완료하는 데 걸리는 시간(위와 같음)

• A - 장치를 설정하고 전극을 부착하는 데 걸리는 시간입니다.
• B - 전극 적용부터 장치 시작까지 걸린 시간;
• C - 장치에서 시작을 누른 후 결과를 얻을 때까지의 시간입니다.
• D - 얻은 결과부터 전극 제거까지의 시간
• 총 시간은 위와 같습니다. (A+B+C+D)

첫 번째 시도에서 유아에 대한 좋은 품질의 기록을 얻지 못한 경우 평가(위와 같이)를 완료하는 데 걸리는 시간입니다.

• A - 장치를 설정하고 전극을 부착하는 데 걸리는 시간입니다.
• B - 전극 적용부터 장치 시작까지 걸린 시간;
• C - 장치에서 시작을 누른 후 결과를 얻을 때까지의 시간입니다.
• D - 얻은 결과부터 전극 제거까지의 시간
• 총 시간은 위와 같습니다. (A+B+C+D)

좋은 품질의 녹음이 이루어지기까지 사용자의 시도 횟수(최대 3회 시도)

녹음 시도에 실패한 횟수입니다. 실패한 기록은 태블릿에서 결과를 얻을 수 없는 경우입니다.

녹음 및 인터뷰 중에 수집된 데이터에서 파생된 장치 및 절차의 유용성에 대한 의료 만족도를 평가합니다.

의료 전문가의 기기 만족도에 대한 정보는 작성된 SUS(시스템 사용성 척도) 설문지를 통해 수집됩니다. 또한 사전 정의된 질문을 사용하여 의료 전문가와 인터뷰를 실시하여 장치 사용에 대한 추가 지식과 정보를 얻습니다.