口腔裂 BSSO 后的 IAN 损伤

正颌手术通常是唇腭裂 (CLP) 患者治疗的最后阶段。 超过 25% 的 CLP 患者出现明显的上颌骨发育不全，需要手术干预，因此，最常对这些患者进行上颌骨截骨术。 如果矢状面差异太大或存在相关的下颌畸形（例如，不对称、下颌咬合平面倾斜），则同时进行下颌后退。 双侧矢状劈开截骨术（BSSO）已成为许多中心治疗下颌骨畸形的首选下颌骨截骨术。 然而，众所周知，这种治疗会引起各种并发症；下牙槽神经 (IAN) 的感觉障碍可能是最常见的一种，发生率从 8% 到 85% 不等。 由于言语、进食和饮水困难，这种感觉障碍可能会影响患者的生活质量。 患者还可能抱怨无法评估触觉刺激，例如涂口红、刮胡子或接吻，这可能会导致心理和社会问题。

IAN 障碍被认为是由对神经的医源性损伤引起的，包括过度神经操作、神经裂伤、通过不正确放置定位螺钉固定节段、大下颌运动和不良分裂。 识别 BSSO 后 IAN 障碍的危险因素可以帮助临床医生预防它并提高患者的满意度。 人们普遍认为，手术过程中下颌支和体部 IAN 的损伤与术前解剖结构的变化（即患者相关因素）高度相关。 先前的计算机断层扫描 (CT) 研究报告了解剖学变异，包括支的厚度和长度、下牙槽神经管 (IAC) 的位置和骨密度以及颊舌骨皮质板的厚度。 然而，很少有研究试图确定与手术相关的因素，例如 BSSO 的类型、手术矫正的范围、分裂的范围、伴随的颏成形术或第三磨牙拔除。 此外，大多数研究在设计上都是回顾性的，或者只有有限数量的患者进行多变量分析，以识别患者和手术相关风险因素对 IAN 障碍的影响。 此外，先前研究中 IAN 干扰的评估时间和方法的异质性阻碍了对 IAN 恢复程度的整体评估。 因此，我们的目标是 (1) 确定 BSSO 后 IAN 损伤的发生率，(2) 确定与此类损伤相关的风险因素，以及 (3) 通过执行前瞻性纵向研究了解此类损伤的后果，包括神经恢复的程度学习。