比较三步粘接系统（Transbond™ XT）与两步系统（GC Ortho Connect™）对上颌正畸托槽周围脱矿的影响 (ORTHOCOLLAGE)

引言：

白斑病变（WSLs）（局部、非龋性釉质脱矿）是固定正畸治疗中最常见的副作用之一。这些病变在接受唇侧正畸治疗的患者中临床可见率高达97%，最早可在治疗第四周出现。它们源于粘接剂-釉质界面的微渗漏，促进了细菌定植和酸的产生。除了影响美观外，WSLs还可能损害托槽粘接力，增加治疗失败的风险。

固定正畸矫治器改变了口腔微环境，利于菌斑堆积并阻碍有效刷牙，尤其在结扎丝、托槽和弹簧等复杂部件周围。因此，WSLs成为正畸医生和口腔外科医生关注的重大临床问题，因为这些病变可能在治疗结束后持续存在长达五年。

研究中的粘接系统：

传统粘接方案Transbond™ XT包含三个步骤：酸蚀、涂布底胶和放置粘接剂。相反，GC Ortho Connect™系统将底胶直接整合到粘接剂中，在正磷酸酸蚀后简化为单步粘接程序。这种简化方案减少了唾液暴露时间并提高了粘接强度。

此外，GC Ortho Connect™含有10-MDP（10-甲基丙烯酰氧基癸基二氢磷酸酯）等功能单体，能与羟基磷灰石发生化学作用，形成耐湿气的稳定粘接。虽然一些研究表明该系统降低了污染风险并缩短了椅旁时间，但其他报告称与传统三步法相比，其产生的病变略深且范围稍大。证据仍存在矛盾，多项体外研究显示两种粘接系统在釉质质量方面无显著差异。

研究假设与目标：

本临床试验旨在确定三步法（Transbond™ XT）与两步法（GC Ortho Connect™）粘接系统在釉质脱矿方面是否存在显著差异。

- 主要目标：通过口内照片（釉质脱矿指数，EDI）和荧光成像（C50 Acteon相机）比较两种系统在拆除托槽时正畸托槽周围釉质脱矿的程度。

• 次要目标：
• 评估粘接前、6个月和12个月时的釉质脱矿情况。
• 比较整个治疗期间的托槽脱落率。
• 使用Silness和Löe菌斑指数评估菌斑堆积情况。

方法学：

将在蒙彼利埃牙科诊疗中心开展一项单中心随机分口对照试验。每位患者将作为自身对照：

一侧半牙弓（对照组）使用Transbond™ XT（三步系统）粘接。

对侧半牙弓（实验组）使用GC Ortho Connect™（两步系统）粘接。

随机分组将按性别和刷牙用手优势进行分层，以减少混杂因素。纳入标准针对需要固定唇侧金属矫治器的10-16岁未成年人。

分口设计最大程度减少了个体间差异（如釉质质量、唾液成分、卫生习惯）并提高了统计效力。此外，釉质脱矿评估将由盲态检查员进行，以确保评价无偏倚。

结论：

本研究提出对两种正畸粘接系统进行创新性临床比较，以评估其对釉质脱矿的影响。如果简化的GC Ortho Connect™系统表现出与传统Transbond™ XT相似或更优的效果，它可能成为一种省时、耐污染且更保守的正畸粘接替代方案，最终提升患者安全和临床效率。