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- 미국 임상 시험 레지스트리
- 임상시험 NCT07355322
상악 교정 브라켓 주변 탈회에 대한 3단계 접착 시스템(Transbond™ XT)과 2단계 시스템(GC Ortho Connect™)의 비교 (ORTHOCOLLAGE)
상악 교정 브래킷 주변의 탈회에 대한 3단계 접착 시스템(TRANSBOND™ XT) 대 2단계 시스템(GC ORTHO CONNECT™) 비교: 무작위 분할구 임상시험
백색 반점 병변(WSLs)은 고정성 교정 치료의 가장 흔한 부작용 중 하나로, 순측 교정 장치로 치료받은 환자의 최대 97%에 영향을 미칩니다. 에나멜과 접착제 사이의 미세 누출로 인해 발생하는 이러한 초기 에나멜 탈회는 치료 4주차에 나타날 수 있습니다. 이는 미용적 문제를 야기할 뿐만 아니라 브라켓 실패 위험을 증가시킵니다.
이 무작위 분할구 임상시험은 전통적인 3단계 시스템(Transbond™ XT)과 간소화된 2단계 시스템(GC Ortho Connect™)의 두 가지 접착 시스템을 비교하여 교정 브라켓 주변의 에나멜 탈회에 미치는 영향을 평가합니다. 탈회 정도는 구강 내 사진을 기반으로 한 에나멜 탈회 지수(EDI)를 사용하여 측정되며 형광 카메라(C50 Acteon)로 확인됩니다.
본 연구의 목적은 간소화된 접착 프로토콜이 에나멜 탈회를 증가시키지 않으면서 임상 시간과 타액 오염 위험을 감소시킬 수 있는지 확인하여 교정 접착 절차에 대해 잠재적으로 더 효율적이고 보존적인 접근법을 제공하는 것입니다.
연구 개요
상태
상세 설명
서론:
백색 반점 병변(WSLs)(국소적, 비공동성 법랑질 탈회)은 고정성 교정 치료의 가장 빈번한 부작용 중 하나입니다.
순측 교정 치료를 받는 환자의 최대 97%에서 임상적으로 관찰될 수 있으며, 이러한 병변은 치료 시작 후 4주째부터 나타날 수 있습니다.
이는 접착제-법랑질 계면의 미세 누출로 인해 발생하며, 이는 세균 집락 형성과 산 생성을 촉진합니다.
심미적 영향 외에도, WSLs는 브라켓 접착력을 저하시키고 실패 위험을 증가시킬 수 있습니다.
고정성 교정 장치는 구강 생태계를 변화시켜 치태 축적을 촉진하고, 특히 리가처, 브라켓, 스프링과 같은 복잡한 요소 주변에서 효율적인 칫솔질을 방해합니다.
결과적으로, WSLs는 이러한 병변이 치료 완료 후 5년 동안 지속될 수 있기 때문에 교정 전문의와 치과 외과의사 모두에게 중요한 임상적 문제입니다.
조사 대상 접착 시스템:
기존 접착 프로토콜인 Transbond™ XT는 세 단계로 구성됩니다: 에칭, 프라이머 도포, 접착제 적용.
반면, GC Ortho Connect™ 시스템은 프라이머를 접착제에 직접 통합하여 인산 에칭 후 단일 단계로 접착 절차를 단순화합니다.
이 축소된 프로토콜은 타액 노출 시간을 최소화하고 접착 강도를 향상시킵니다.
또한, GC Ortho Connect™에는 10-MDP(10-메타크릴로일록시데실 디수소 인산염)와 같은 기능성 단량체가 포함되어 있으며, 이는 하이드록시아파타이트와 화학적으로 상호작용하여 습기에 강한 안정적인 결합을 형성합니다.
일부 연구는 이 시스템이 오염 위험을 줄이고 진료 시간을 단축시킨다고 제안하는 반면, 다른 연구는 기존 3단계 접근법에 비해 약간 더 깊고 큰 병변을 보고합니다.
증거는 여전히 상반되며, 여러 체외 연구에서는 두 접착 시스템 간 법랑질 품질에 유의미한 차이가 없음을 보여줍니다.
연구 가설 및 목표:
이 임상 시험은 3단계(Transbond™ XT)와 2단계(GC Ortho Connect™) 접착 시스템 간 법랑질 탈회에 유의미한 차이가 있는지 확인하는 것을 목표로 합니다.
- 주요 목표: 구강 내 사진(법랑질 탈회 지수, EDI)과 형광 이미징(C50 Acteon 카메라)을 사용하여 두 시스템 간 교정 브라켓 주변 법랑질 탈회 정도를 탈착 시 비교합니다.
- 부차적 목표:
- 접착 전, 6개월, 12개월 시점의 법랑질 탈회를 평가합니다.
- 전체 치료 기간 동안 브라켓 실패율을 비교합니다.
- Silness와 Löe 치태 지수를 사용하여 치태 축적을 평가합니다.
방법론:
몽펠리에 치과 진료 센터에서 단일 중심 무작위 분할 구강 시험이 수행됩니다.
각 환자는 자신의 대조군 역할을 합니다:
한쪽 반측 치열(대조군)은 Transbond™ XT(3단계 시스템)로 접착합니다.
반대쪽 반측 치열(실험군)은 GC Ortho Connect™(2단계 시스템)로 접착합니다.
혼란 변수를 줄이기 위해 성별과 칫솔질 주 손잡이에 따라 무작위 배정을 계층화합니다.
포함 기준은 고정성 순측 금속 장치가 필요한 10-16세 미성년자를 대상으로 합니다.
분할 구강 설계는 개인 간 변동성(예: 법랑질 품질, 타액 구성, 위생 습관)을 최소화하고 통계적 검정력을 높입니다.
또한, 법랑질 탈회 평가는 편향되지 않은 평가를 보장하기 위해 맹검 평가자에 의해 수행됩니다.
결론:
이 연구는 두 교정 접착 시스템 간의 혁신적인 임상 비교를 제안하여 법랑질 탈회에 미치는 영향을 평가합니다.
만약 단순화된 GC Ortho Connect™ 시스템이 기존 Transbond™ XT와 유사하거나 우수한 결과를 보인다면, 이는 시간 절약, 오염 저항성 및 더 보수적인 교정 접착 절차의 대안이 될 수 있으며, 궁극적으로 환자 안전과 임상 효율성을 향상시킬 수 있습니다.
연구 유형
등록 (추정된)
단계
- 해당 없음
연락처 및 위치
연구 연락처
- 이름: Stéphane BARTHELEMI, PU-PH
- 전화번호: +33 6 47 75 55 33
- 이메일: s-barthelemi@chu-montpellier.fr
연구 장소
-
-
-
Montpellier, 프랑스
- University Hospital Montpellier
-
연락하다:
- Stéphane BARTHELEMI
- 전화번호: +33 6 47 75 55 33
- 이메일: s-barthelemi@chu-montpellier.fr
-
-
참여기준
자격 기준
공부할 수 있는 나이
- 어린이
건강한 자원 봉사자를 받아들입니다
설명
포함 기준:
- 10세부터 16세까지의 환자 포함,
- 몽펠리에 치과 진료 센터에서 첫 번째 안면교정 상담을 받는 환자로, 청소년기 또는 젊은 성인기 치열(데모제 분류에 따름)을 가진 경우,
- 양악 다중 브라켓 치료가 필요하고 금속 협측 기술을 선택하는 환자.
제외 기준:
- 증후군 환자(모든 증후군 포함, 예: 구순열) 또는 중증 만성 질환(ALD)을 가진 환자,
- 이전에 혼합, 설측 또는 협측 기술을 사용한 다중 브라켓 교정 치료를 받은 환자,
- 연구자가 브라켓 부착에 부적합하다고 간주하는 모든 의학적 상태,
- 중증 MIH(구치-전치 저광화) 및/또는 하나 이상의 치아에서 중증 탈회를 보이는 환자(중증 법랑질 형성 부전증 또는 상아질 형성 부전증 포함),
- 하나 이상의 협측 표면에 금속 크라운, 세라믹 크라운, 도재-금속 합금 크라운, 인레이, 온레이 또는 아말감과 같은 수복물이 있는 환자,
- 교정 치료와 호환되지 않는 구강 위생 상태를 가진 환자,
- 측면 전치의 무형성증,
- 본 연구에 영향을 줄 수 있는 다른 중재적 임상 시험에 이미 참여 중인 대상자,
- 조절되지 않는 정신 장애,
- 숙고 기간 후 법정 대리인의 서면 동의서 부재,
- 협력 부족 또는 의사소통/이해의 어려움, 또는 미성년자의 참여 거부,
- 후원자 또는 연구자와의 종속 또는 고용 관계가 있는 대상자,
- 진행 중인 제외 기간이 있는 다른 연구에 참여 중인 대상자,
- 프랑스 사회 보장 제도에 가입되지 않았거나 해당 제도의 수혜자가 아닌 대상자,
- 프랑스 공중 보건 법률에 따른 보호 대상 집단:
임산부 또는 수유부 재판, 행정 결정 또는 비자발적 입원에 의해 자유가 박탈된 대상자 후견 또는 보조 감독 하에 있는 대상자
공부 계획
연구는 어떻게 설계됩니까?
디자인 세부사항
- 주 목적: 방지
- 할당: 무작위
- 중재 모델: 병렬 할당
- 마스킹: 하나의
무기와 개입
참가자 그룹 / 팔 |
개입 / 치료 |
|---|---|
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활성 비교기: Transbond™ XT (3-step system)
한쪽 반쪽 아치에 적용된 전통적인 3단계 접착 시스템: 산 부식, 프라이머 도포, 접착제 부착 및 광중합.
대조군으로 사용됩니다.
|
브래킷은 3단계 프로토콜을 사용하여 반쪽 아치에 부착됩니다: 1) 산 부식, 2) 프라이머 도포, 3) 접착제 부착 및 광중합.
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|
실험적: GC 오르토 커넥트™ (2단계 시스템)
대측 반측 아치에 적용된 단순화된 2단계 접착 시스템: 산 부식 후 프라이머가 통합된 접착제와 광중합.
법랑질 탈회 감소 가능성 평가.
|
브라켓은 2단계 프로토콜을 사용하여 대측 반궁에 부착됩니다: 1) 산 에칭, 2) 프라이머가 통합된 접착제 도포 후 광중합.
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연구는 무엇을 측정합니까?
주요 결과 측정
결과 측정 |
측정값 설명 |
기간 |
|---|---|---|
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탈착 후 평균 법랑질 탈회 지수 (EDI)
기간: 최대 24개월
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고정식 교정 장치 탈착 후 상악 반측궁별 평균 법랑질 탈회 지수(EDI).
평가는 Banks & Richmond(1994)의 법랑질 탈회 지수(EDI) 0-3점 채점 시스템을 기반으로 구강 내 사진을 사용하여 수행되며, 상악 금속 교정 브라켓(AO 홈 .022
x .028) 주변의 백색 반점 병변(WSLs)을 평가합니다.
결과는 형광 구강 내 카메라를 사용하여 확인됩니다.
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최대 24개월
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2차 결과 측정
결과 측정 |
측정값 설명 |
기간 |
|---|---|---|
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반측 아치당 평균 EDI
기간: 사전 시술
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상악 반측치궁당 평균 법랑질 탈회 지수(EDI), 구강 내 사진 및 형광 구강 내 카메라를 사용하여, Banks & Richmond(1994)의 법랑질 탈회 지수(EDI) 0-3점 척도 기준.
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사전 시술
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반쪽 아치당 평균 EDI
기간: 6개월
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상악 반측치궁당 평균 법랑질 탈회 지수(EDI), 구강 내 사진과 형광 구강 내 카메라를 사용하여, Banks & Richmond(1994)의 법랑질 탈회 지수(EDI) 0-3 점수 체계에 따라.
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6개월
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반쪽 아치당 평균 EDI
기간: 12개월
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구강 내 사진과 형광 구강 내 카메라를 사용하여 Banks & Richmond(1994)의 법랑질 탈회 지수(EDI) 0-3점 체계에 따라 평가한 상악 반쪽 아치당 평균 법랑질 탈회 지수(EDI).
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12개월
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|
치아당 EDI
기간: 수술 전
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치아별로 측정된 법랑질 탈회 지수(EDI), 0-3 EDI 점수 체계에 따름.
|
수술 전
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치아당 EDI
기간: 6개월
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치아별로 측정한 법랑질 탈회 지수(EDI), 0-3 EDI 점수 체계에 따라.
|
6개월
|
|
치아당 EDI
기간: 12개월
|
치아별로 측정한 법랑질 탈회 지수(EDI), 0-3점 EDI 채점 시스템에 따름.
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12개월
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치아별 EDI
기간: 최대 24개월
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치아별로 측정한 법랑질 탈회 지수(EDI), 0-3 EDI 점수 체계에 따름.
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최대 24개월
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치아당 브라켓 탈락 발생률
기간: 6개월
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6개월
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치아별 브라켓 탈락 발생률
기간: 12개월
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12개월
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치아별 브라켓 탈락 발생률
기간: 최대 24개월
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최대 24개월
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치아별 총 탈락 횟수
기간: 6개월
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6개월
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치아당 박리 횟수
기간: 12개월
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12개월
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치아별 박리 총 횟수
기간: 최대 24개월
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최대 24개월
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환자별 총 박리 횟수
기간: 6개월
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6개월
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환자당 박리 총 횟수
기간: 12개월
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12개월
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환자당 박리 총 수
기간: 최대 24개월
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최대 24개월
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치태 지수
기간: 시술 전
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Silness & Loe에 따라 0-3으로 점수화된 플라크 지수, 탐침 N°6으로 측정
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시술 전
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치태 지수
기간: 6개월
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실니스와 뢰(Silness & Loe)에 따라 0-3점으로 측정한 치태 지수, 프로브 N°6으로 측정
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6개월
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치태 지수
기간: 12개월
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Silness & Loe에 따라 0-3으로 평가된 플라크 지수, 프로브 N°6으로 측정
|
12개월
|
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플라크 지수
기간: 최대 24개월
|
Plaque Index는 Silness & Loe에 따라 0-3점으로 평가되며, 프로브 Nº6으로 측정됩니다
|
최대 24개월
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공동 작업자 및 조사자
수사관
- 수석 연구원: Stéphane BARTHELEMI, PU-PH, University Hospital, Montpellier
연구 기록 날짜
연구 주요 날짜
연구 시작 (추정된)
기본 완료 (추정된)
연구 완료 (추정된)
연구 등록 날짜
최초 제출
QC 기준을 충족하는 최초 제출
처음 게시됨 (실제)
연구 기록 업데이트
마지막 업데이트 게시됨 (실제)
QC 기준을 충족하는 마지막 업데이트 제출
마지막으로 확인됨
추가 정보
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