逐步方法经静脉铅提取的并发症

近年来，心脏植入式电子设备 (CIED) 的植入数量有所增加 (1)，全球每年植入约 1.2-140 万个 CIED。(2) 因此，这与感染率和导线故障率的增加有关，影响了所有 CIED 病例的大约 1-2%。 (3)

最近，据估计全世界每年提取 10 000 到 15 000 条线索。 (4) 在过去的几十年里，经静脉导线拔除 (TLE) 已经发展成为导线移除的首选方法，与心脏直视手术的手术移除相比侵入性更小，而心脏直视手术现在保留用于高风险手术或非常大的赘生物的病例。

在所有 TLE 病例中，TLE 最常见的指征是感染（占 52.8%）和导线功能障碍（占 38.1%）。 (5)

TLE 有不同的方法（优劣方法）和技术。 目前的技术采用具有可变成功率的机械和/或激光设备。 锁定探针一直是这些技术中的主要工具，而伸缩式（动力或非动力）机械或激光护套是最重要的辅助工具。

尽管是一种安全的手术，轻微并发症发生率为 0.06 至 6.2%，但严重并发症仍可能发生在 0.2-1.8% 即使是最有经验的人也有 % 的病例在几个大型登记处的死亡率达到 0.2 - 1.2 %。 (6) 尽管许多研究试图确定并发症的风险因素，包括患者/领导概况和中心/操作员经验，但主要研究仍然存在相互矛盾的结果。

最近，引入了小型开胸术或胸腔镜的混合方法，并被认为可以提高具有挑战性的 TLE 手术的安全性。 (7, 8)