피하 이식형 자동 제세동기 이식을 위한 스크리닝 (SIS)

S-ICD(Subcutaneous Implantable Cardioverter-Defibrillator)는 최근 다양한 병리학적 상태에서 널리 보급되었으며 이식률은 전 세계적으로 매년 증가하고 있습니다. 이식 전에 심장 리듬을 분석하는 데 사용되는 특정 심전도 벡터를 평가하기 위해 스크리닝을 구현하는 것이 필수적입니다. 일상적인 진료에서 약 10%의 환자가 스크리닝 실패로 인해 S-ICD 장치 이식을 거부합니다 1-3. 원인은 주로 R파(낮거나 높은 진폭)의 이상과 낮은 R/T파 비율입니다. 선별 실패의 결정요인은 아직 명확하게 연구되지 않았습니다. 또한, 이식 전 전기도와 장치에 의해 기록된 전기도 사이의 변화를 찾는 것은 S-ICD 이식에서 일반적인 발견입니다. R파 진폭 및 R/T 비의 변화는 이식 전 전극 위치의 작은 변화에서도 관찰됩니다. 또한 초기 검진 실패에도 불구하고 일부 경우 S-ICD를 안전하게 시행할 수 있음이 확인되었습니다 4,5. 연구에 포함된 환자는 일반적인 스크리닝 프로토콜을 받게 됩니다. 실패하는 경우 S-ICD 및 리드 배치와 호환되는 약간의 전극 위치 변동으로 2차 스크리닝이 실현됩니다. 성공의 경우 이식 양식은 의사가 결정합니다.

S-ICD 이식 스크리닝 데이터의 경우 이식 후 장치 전기도와 비교됩니다. 피하 전극 수준의 전극을 사용하여 새로운 스크리닝 절차를 비교하여 2개월 추적 조사를 수행할 것입니다.