Diodelaser og S100A8 i peri-implantitt

Denne studien inkluderte 39 funksjonelle implantater hos pasienter i alderen 30-65 år diagnostisert med periimplantitt (PD ≥6 mm, ingen klinisk mobilitet). Deltakerne ble tildelt tre grupper (n=13 per gruppe) ved bruk av enkel randomisering (myntkast) utført av en uavhengig forsker: Gruppe 1 (Kun mekanisk debridement), Gruppe 2 (940 nm diodelaser-monoterapi), og Gruppe 3 (Kombinert mekanisk debridement og diodelaser). Eksklusjonskriteriene bestod av systemiske sykdommer, røyking eller alkoholforbruk, svangerskap/amning, parafunksjonelle vaner og nylig bruk av antibiotika (innen 6 måneder) eller periimplantatbehandling (innen 3 måneder). Ved utgangspunktet ble kliniske parametere registrert og prøver av periimplantat sulkærvæske (PISF) ble samlet inn. Spesielt ble sondedyp (PD) og klinisk festenivå (CAL) målt på 6 steder per implantat, mens den modifiserte plakkindeksen (mPI) og gingivaindeksen (GI) ble vurdert på 4 steder per implantat.

Før PISF-prøvetaking ble supragingival plakk fjernet ved hjelp av sterile kuretter, og området ble isolert og lufttørket. Prøver ble samlet fra mesiale og distale steder ved hjelp av papirstrimler (Ora Flow) som ble satt 1 mm inn i sulkus i 30 sekunder; forurenset strimler ble kastet. PISF-volum ble målt i mikroliter ved hjelp av en Periotron 8000-enhet, og prøvene ble lagret ved -80°C til analyse. Behandlingsprotokollene inkluderte: mekanisk debridement med titankuretter for Gruppe 1; dekontaminering ved bruk av en 940 nm diodelaser (2,5 W, CP2-modus, 400 μm fibertipp) i 30 sekunder for Gruppe 2; og en sekvensiell kombinasjon av begge behandlingene for Gruppe 3. Etter behandling ble alle lommer irrigert med 10% povidonjod. Kliniske parametere og PISF-prøver ble vurdert ved utgangspunktet (T0), uke 4 (T1) og uke 12 (T2). For biokjemisk analyse ble S100A8-nivåer bestemt via ELISA ved 450 nm og beregnet som ng/mL ved hjelp av en standardkurve.