Diodlaser och S100A8 vid peri-implantit

Denna studie inkluderade 39 funktionella implantat hos patienter i åldrarna 30–65 år diagnostiserade med periimplantit (PD ≥6 mm, ingen klinisk rörlighet). Deltagarna fördelades slumpmässigt i tre grupper (n=13 per grupp) med enkelt randomiseringsförfarande (myntkast) utfört av en oberoende forskare: Grupp 1 (mekanisk debridering endast), Grupp 2 (940 nm diodlaser monoterapi) och Grupp 3 (kombinerad mekanisk debridering och diodlaser). Exklusionskriterierna innefattade systemiska sjukdomar, rökning eller alkoholkonsumtion, graviditet/amning, parafunktionella vanor samt nyligen användning av antibiotika (inom 6 månader) eller periimplantatbehandling (inom 3 månader). Vid baslinjen registrerades kliniska parametrar och prover av periimplantat sulcusvätska (PISF) samlades in. Specifikt mättes sonddjup (PD) och klinisk fästnivå (CAL) vid 6 platser per implantat, medan modifierade plackindex (mPI) och gingivalindex (GI) bedömdes vid 4 platser per implantat.

Innan PISF-provtagning togs supragingivalt plack bort med sterila kuretter, och området isolerades och lufttorkades. Prover samlades från mesiala och distala platser med pappersremsor (Ora Flow) som fördes 1 mm in i sulcus i 30 sekunder; kontaminerade remsor kasserades. PISF-volymen mättes i mikroliter med en Periotron 8000-enhet, och proverna förvarades vid –80°C tills analys. Behandlingsprotokollen omfattade: mekanisk debridering med titankuretter för Grupp 1; dekontaminering med 940 nm diodlaser (2,5 W, CP2-läge, 400 μm fibertuta) i 30 sekunder för Grupp 2; samt en sekventiell kombination av båda behandlingarna för Grupp 3. Efter behandlingen sköljdes alla fickor med 10% povidon-jod. Kliniska parametrar och PISF-prover utvärderades vid baslinje (T0), vecka 4 (T1) och vecka 12 (T2). För biokemisk analys bestämdes S100A8-nivåer via ELISA vid 450 nm och beräknades som ng/ml med en standardkurva.