HIE의 산모 및 신생아 위험 요인

만기 및 단기 임신 신생아의 뇌 손상은 부상에 대한 발달 중인 뇌의 취약성에 이차적인 사망률과 장기 이환율에 상당한 기여를 합니다. 조기 뇌 손상의 원인에는 뇌졸중, 출생 외상, 대사 또는 유전 장애, 신생아 발병 간질, 뇌로 가는 혈류 또는 산소 전달 감소로 이어지는 다양한 주산기 사건이 포함됩니다. 이 마지막 원인은 주산기 뇌 손상의 가장 흔한 원인입니다. 일반적으로 신생아 뇌병증 또는 비정상적인 신경학적 검사가 나타나며 1000명의 출생 중 3-5명에서 발생하는 것으로 추정됩니다.

Sarnat 및 Sarnat 분류는 질식된 신생아의 예후에 대한 정보를 제공하기 위해 여전히 보편적으로 인정되는 점수 체계입니다. 이 단계는 영아의 임상 양상, 검사 소견 및 발작의 존재를 기반으로 하며 증상의 지속 기간에 중점을 둡니다.

Martinez-Biargeet al. HIE-Intrapartum maternal fever, 장기간의 양막 파열, 태반 조기 박리, 파열 된 자궁, 두꺼운 태변 및 재태 연령 ≥ 41 주와 관련된 몇 가지 분만 중 요인을보고했습니다. 임신 36주 이후에 태어난 영아에 대한 환자-대조군 연구에서 Hayes et al. 두꺼운 태변, 태아 성장 제한, 큰 머리 둘레, 양수과소증, 남성 태아 성별, 태아 서맥, 산모 발열 및 자궁 수축 증가를 포함하여 HIE 발달에 대한 몇 가지 위험 요소를 확인했습니다. HIE에 대해 이전에 확인된 산전 위험 인자에는 무산임, 임신 > 41주, 자궁 내 성장 제한, 산모 연령 > 35세, 임신 중 요로 감염이 포함됩니다. HIE에 대해 이전에 확인된 분만 중 위험 요소에는 센티넬 사건, 응급 제왕절개, 장기 파열, 태변의 존재, 어깨 난산, 산모 발열 및 임상 융모막염이 포함됩니다.

또한 HIE의 관련 요인에는 산모 연령(연령), 출산(초임신-다중임산), 산모 고혈압, 전자간증, 임신성 DM, 이전 태아 사망/사산 및 이전 제왕절개와 같은 산모 요인이 포함됩니다. HELLP 증후군 및 제대탈출증이 있는 산모 전자간증은 질식의 위험이 있는 것으로 나타났습니다(14). 분만 경로(질 - 제왕절개) 및 임신 주수(주), 성별, 출생 체중(그램) 및 가능한 경우 아프가 점수와 같은 신생아 요인. 5분의 Apgar 점수는 다른 평가를 사용할 수 있기 전에 유용한 예후 데이터를 제공합니다. 1분, 5분 및 10분의 낮은 Apgar 점수는 사망 또는 만성 운동 장애의 위험이 증가할 가능성이 있는 지표인 것으로 밝혀졌습니다.