心脏植入电子设备患者三尖瓣反流的手术治疗：长期结果

旨在评估植入式心脏复律除颤器 (ICD) 安全性和有效性的旧试验表明，猝死率显着降低，但心力衰竭住院率增加。 当时，并未广泛考虑心内膜导线可能导致明显的三尖瓣反流 (TR)，从而导致心力衰竭恶化的可能性。 然而，现在已经确定，在心脏植入式电子设备 (CIED) 患者中，中度或重度 TR 经常发生，并且与死亡率和心力衰竭住院率增加有关。

本研究旨在报告 CIED 患者三尖瓣修复和置换手术的长期结果。事实上，TR 和 CIED 患者可分为两类：CIED 诱发的 TR 和 CIED 相关的 TR。 在 CIED 诱发 TR 的患者中，瓣膜功能障碍直接由导线引起，具有多种机制，例如对三尖瓣 (TV) 小叶移动性和接合（撞击）的机械干扰、导线放置或操作过程中的瓣膜损伤以及瓣膜下缠绕。 在 CIED 相关 TR 患者中，瓣膜功能障碍不是由铅直接引起的。

2009 年，全球约有 72 万个 CIED 被植入 [7]，此后 CIED 植入持续增加，估计 2023 年将有 140 万个 CIED 植入。 由于对 CIED 的需求如此之大，对诱发或相关的严重 TR CIED 进行手术或经导管治疗的需求在过去几年稳步增长，并且在未来几年可能会继续增长。 然而，关于 CIED 患者三尖瓣手术结果的可用数据有限，尤其是长期结果。 通过这项研究，我们旨在报告 CIED 患者三尖瓣修复和置换的长期结果。